時(shí)間:2008-03-10 13:32:00來(lái)源:lijuan
圖1:三相逆變器拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)圖[/align]
MOSFET Q1、Q3和Q5高頻(HF)切換,Q2、Q4和Q6低頻(LF)切換。當(dāng)一個(gè)低頻MOSFET處于開(kāi)狀態(tài),而且一個(gè)高頻MOSFET 處于切換狀態(tài)時(shí),就會(huì)產(chǎn)生一個(gè)功率級(jí)。
步驟1) 功率級(jí)同時(shí)給兩個(gè)相位供電,而對(duì)第三個(gè)相位未供電。假設(shè)供電相位為L(zhǎng)1、L2,L3未供電。在這種情況下,MOSFET Q1和Q2處于導(dǎo)通狀態(tài),電流流經(jīng)Q1、L1、L2和Q4。
步驟2)MOSFET Q1關(guān)斷。因?yàn)殡姼胁荒芡蝗恢袛嚯娏,它?huì)產(chǎn)生額外電壓,直到體二極管D2被直接偏置,并允許續(xù)流電流流過(guò)。續(xù)流電流的路徑為D2、L1、L2和Q4。
步驟3)Q1打開(kāi),體二極管D2突然反偏置。Q1上總的電流為供電電流(如步驟1)與二極管D2上的恢復(fù)電流之和。
圖2所示MOSFET器件的截面圖,顯示出其中的體-漏二極管。在步驟2,電流流入到體-漏二極管D2(見(jiàn)圖1),該二極管被正向偏置,少數(shù)載流子注入到二極管的區(qū)和P區(qū)。
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圖2:MOSFET器件的截面圖,電流流經(jīng)其內(nèi)部的體二極管[/align]
當(dāng)MOSFET Q1導(dǎo)通時(shí),二極管D2被反向偏置, N區(qū)的少數(shù)載流子進(jìn)入P+體區(qū),反之亦然。這種快速轉(zhuǎn)移導(dǎo)致大量的電流流經(jīng)二極管,從N-epi到P+區(qū),即從漏極到源極。電感L1對(duì)于流經(jīng)Q2和Q1的尖峰電流表現(xiàn)出高阻抗。Q1表現(xiàn)出額外的電流尖峰,增加了在導(dǎo)通期間的開(kāi)關(guān)損耗。圖4a描述了MOSFET的導(dǎo)通過(guò)程。
為改善在這些特殊應(yīng)用中體二極管的性能,研發(fā)人員開(kāi)發(fā)出具有快速體二極管恢復(fù)特性MOSFET。當(dāng)二極管導(dǎo)通后被反向偏置,反向恢復(fù)峰值電流Irrm較小,完成恢復(fù)所需要的時(shí)間更短(見(jiàn)圖3)。
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圖3:具有快速體二極管恢復(fù)特性MOSFET,反向恢復(fù)峰值電流較小,恢復(fù)時(shí)間縮短[/align]
我們對(duì)比測(cè)試了標(biāo)準(zhǔn)的MOSFET和快恢復(fù)MOSFET。ST推出的STD5NK52ZD(SuperFREDmesh系列)放在Q2(LF)中,如圖4b所示。在Q1 MOSFET(HF)的導(dǎo)通工作期間,開(kāi)關(guān)損耗降低了65%。采用STD5NK52ZD時(shí)效率和熱性能獲得很大提升(在不采用散熱器的自由流動(dòng)空氣環(huán)境下,殼溫從60°C降低到50°C)。在這種拓?fù)渲,MOSFET內(nèi)部的體二極管用作續(xù)流二極管,采用具有快速體二極管恢復(fù)特性MOSFET更為合適。
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圖4:a) Q2采用標(biāo)準(zhǔn)MOSFET的開(kāi)狀態(tài)操作; b) Q2采用ST公司的STD5NK52ZD MOSFET開(kāi)狀態(tài)操作[/align]
SuperFREDmesh技術(shù)彌補(bǔ)了現(xiàn)有的FDmesh技術(shù),具有降低導(dǎo)通電阻,齊納柵保護(hù)以及非常高的dv/dt性能,并采用了快速體-漏恢復(fù)二極管。N溝道520V、1.22歐姆、4.4A STD5NK52ZD可提供多種封裝,包括TO-220、DPAK、I2PAK和IPAK封裝。該器件為工程師設(shè)計(jì)開(kāi)關(guān)應(yīng)用提供了更大的靈活性。其他優(yōu)勢(shì)包括非常高的dv/dt,經(jīng)過(guò)100%雪崩測(cè)試,具有非常低的本征電容、良好的可重復(fù)制造性,以及改良的ESD性能。此外,與其他可選模塊解決方案相比,使用分立解決方案還能在PCB上靈活定位器件,從而實(shí)現(xiàn)空間的優(yōu)化,并獲得有效的熱管理,因而這是一種具有成本效益的解決方案。
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